بررسی پیشرفت ام‌اس با اسکنرهای پرتوان

محققان با استفاده از اسکنرهای پرتوان ام.‌آر.‌آی به بررسی وضعیت افراد مبتلا به ام‌اس پرداختند و توانستند ارتباط مستقیمی بین حجم کلی ضایعات قشری مغز و ناتوانی عصبی شناسایی کنند. مطالعات نشان می‌دهد، توسعه ضایعات در ماده خاکستری قشر مغز می‌تواند به عنوان عاملی برای پیش‌بینی ناتوانی عصبی در افراد مبتلا به ام‌اس مورد استفاده قرار گیرد. با استفاده از این فناوری می‌توان پیشرفت بیماری را در مراحل اولیه تشخیص داد./ ایرنا
کد خبر: ۱۲۰۲۵۱۶
newsQrCode
ارسال نظرات در انتظار بررسی: ۰ انتشار یافته: ۰

نیازمندی ها